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光子计数成像技术

光子计数成像技术

定  价:80 元

丛书名:

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  • 作者:尹丽菊,高明亮,潘金凤
  • 出版时间:2020/11/1
  • ISBN:9787030664631
  • 出 版 社:科学出版社
适用读者:本书可以作为高等院校电子信息类、光电信息等相关专业高年级本科生教材及研究生教材,也可供相关专业的科研人员才考。
  • 中图法分类:TN941.1 
  • 页码:120
  • 纸张:
  • 版次:31
  • 开本:B5
  • 字数:(单位:千字)
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本书全面、系统地阐述光子计数成像技术的基本理论、方法及其应用。全书共五章,主要介绍微光成像技术发展及国内外研究现状、盖革雪崩光电二极管的电气特性和光学特性、盖革雪崩光电二极管的等效电路和探测电路模型、Si盖革雪崩光电二极管和InGaAs盖革雪崩光电二极管在不同天气情况不同波段下的光电子数分布、蒙特卡洛方法建立的光子计数成像模型、光子计数成像实验平台的搭建、成像实验和图像处理算法的研究。由此将目标背景—环境干扰—辐射传输—成像传感器—成像平台—图像处理等作为完整成像链路呈现给读者。本书给出的完整模型、详尽仿真流程、光子计数成像平台的组成和图像处理的相关算法有利于读者实践光子计数成像技术的相关内容。

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